С 22 по 25 сентября 2015 года в НИТУ «МИСиС» пройдет открытый курс лекций профессора Александра Бернера, ведущего ученого Израильского технологического института Технион, возглавляющего Центр электронной микроскопии.
Александр Бернер известен своими исследованиями в области определения свойств и дефектов материалов с использованием новейших методов рентгеновского и микроспектрального анализа.
Приглашаются все желающие.
Дата проведения: 22 сентября-25 сентября 2015 года
Место проведения: НИТУ «МИСиС», Ленинский проспект д.4, аудитория Б-636,
Ленинский проспект д.6, аудитория А-305
Расписание лекций
22 сентября (вторник)
10:50 — 12:25. Принцип растровой электронной микроскопии (РЭМ). Основные параметры (пространственное разрешение, увеличение, глубина фокуса) и их взаимосвязь. Аудитория Б-636.
12:40 — 14:15 Рассеяние электронов в твердом теле. Сечения рассеяния. Симуляции процессов рассеяния. Аудитория Б-636.
23 сентября (среда)
12:40 — 14:15. Интерпретация контрастов в изображениях во вторичных и отраженных электронах.
Аудитория Б-636.
24 сентября (четверг)
10:50 — 12:25. Растровая электронная микроскопия высокого разрешения. Непроводящие объекты. Работа в низком вакууме. Примеры применения. Аудитория А-305.
25 сентября (пятница)
10:50 — 14:15. Принципы рентгеновской спектроскопии с энергетической и волновой дисперсией. Анализ субмикронных пленок на подложках. Предел обнаружения элементов. Дифракция отраженных электронов. Аудитория А-305.
